以掃描式電子顯微鏡/X-射線能譜分析儀進行無機物分析，可獲得待測物證重要資訊，下列敘述何者正確？

背向散射電子（BSE）能量高、穿透深，其強度隨原子序增加而增強，經影像轉換後可呈現樣品的成分對比與表面形態，是 SEM 觀察的重要訊號之一。