以掃描式電子顯微鏡/X-射線能譜分析儀進行無機物分析，可獲得待測物證重要資訊，下列敘述何者正確？
A二次電子的發射強度隨樣品所含元素原子序之增加而增強
B背向散射電子經影像轉換後，即可觀察樣品的表面形態正確答案
C二次電子及背向散射電子信號可用來作為高倍率的顯微觀察正確答案
D不同元素產生之 X-射線能量均不同，一般用於樣品之破壞性元素定性及定量分析
答案與詳解
逐選項解析
A二次電子的發射強度隨樣品所含元素原子序之增加而增強✕ 易錯陷阱
二次電子來自樣品表面淺層的低能量電子，其發射強度主要取決於表面形態而非原子序。隨原子序增強的是「背向散射電子」，選項把兩者性質張冠李戴。
B背向散射電子經影像轉換後，即可觀察樣品的表面形態✓ 正確（原命題正解）
C二次電子及背向散射電子信號可用來作為高倍率的顯微觀察✓ 併採給分
D不同元素產生之 X-射線能量均不同，一般用於樣品之破壞性元素定性及定量分析✕ 易錯陷阱
EDS 利用不同元素產生特徵 X-射線能量不同的原理進行元素定性與定量分析，但屬於「非破壞性」分析，樣品可保留作為證物再利用，這是刑事鑑識偏好 SEM/EDS 的重要原因。
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