在正子電腦斷層造影儀中，下列何種方法可以減少互毀光子與偵檢器的作用深度效應（depth-of-interaction effect）影響？

增大偵檢器晶體圓環直徑（gantry ring diameter），可使環周邊的湮滅光子以更接近垂直的角度射入晶體，減少斜角入射所造成的視差誤差（parallax error），即 DOI 效應。這是目前減輕 DOI 影響最直接的幾何設計方法之一。