專技高考-牙醫師(一)牙醫學(一)(包括口腔解剖學、牙體形態學、口腔組織與胚胎學、生物化學等科目及其臨床相關知識)109 年第 45 題單選題
關於亨特-許雷格帶(bands of Hunter and Schreger)之敘述,下列何者正確?
A使用透光顯微鏡(transmitted light microscope)最有利觀察
B發育過程中因鈣化不全所造成
C與相鄰牙釉柱(enamel rod)的不同排列方向有關正確答案
D為牙本質的生長線
C正確答案
亨特-許雷格帶是相鄰牙釉柱(enamel rod)排列方向不同造成的光學現象,屬釉質結構特徵。
為什麼答案是 C
正解。亨特-許雷格帶是因相鄰牙釉柱(enamel rod)排列方向呈交錯彎曲,光線照射時不同方向釉柱反射光線各異,產生明暗交替的條帶,屬光學現象。
載入中…
完整詳解
Pro · 無限重點 亨特-許雷格帶是相鄰牙釉柱(enamel rod)排列方向不同造成的光學現象,屬釉質結構特徵。
看到「不同排列方向」就選它!這是釉柱交錯產生的明暗帶光學效果。
逐選項分析
A✕ 陷阱
亨特-許雷格帶屬於光學現象,需用「反射光顯微鏡(reflected light)」才能最清楚觀察明暗交替的條帶,而非透光(transmitted)。選項把光源方式搞反,是典型陷阱。
B✕
因鈣化不全(hypocalcification)造成的是「雷丘斯線(striae of Retzius)」或釉質發育缺陷,並非亨特-許雷格帶。本帶純粹是釉柱方向差異的光學折射效果,與鈣化程度無關。
C✓ 正確
正解。亨特-許雷格帶是因相鄰牙釉柱(enamel rod)排列方向呈交錯彎曲,光線照射時不同方向釉柱反射光線各異,產生明暗交替的條帶,屬光學現象。
D✕ 陷阱
牙本質(dentin)的生長線是「歐文線(lines of Owen)」或von Ebner線;釉質的生長線才是雷丘斯線。亨特-許雷格帶位於釉質且非生長線,雙重錯誤。
釉質與牙本質結構線易混表
| 名稱 | 位置 | 成因/本質 | 觀察方式 |
|---|
| 亨特-許雷格帶 | 牙釉質 | 相鄰釉柱排列方向不同(光學現象) | 反射光顯微鏡 |
| 雷丘斯線(Retzius) | 牙釉質 | 釉質生長/週期性鈣化變化 | 透光顯微鏡 |
| 歐文線(Owen) | 牙本質 | 牙本質生長線 | 透光顯微鏡 |
| 新生線(Neonatal) | 釉質/牙本質 | 出生時生長中斷標記 | 透光顯微鏡 |
本題四個選項分別偷換不同概念:A把反射光改透光、B套用鈣化不全(Retzius相關)、D套用牙本質生長線(Owen)。考生若把釉質各種「線/帶」混為一談就會中招,務必區分光學現象與生長線。
牙醫學(一)(包括口腔解剖學、牙體形態學、口腔組織與胚胎學、生物化學等科目及其臨床相關知識) 相關題目