半導體輻射偵檢器偵測輻射的原理，是利用輻射照射到半導體中產生電子電洞對，進而產生電流的量測方式。其產生一個電子電洞對所需的能量約為若干？

半導體材料（如矽 Si 約 3.6 eV，鍺 Ge 約 2.9 eV）產生一個電子電洞對的平均能量（W值）約為 3 eV，這是半導體偵檢器能量解析度極佳的主因。