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國中教甄|理化理化115 年第 50 題單選題

原子力顯微鏡(AFM, Atomic Force Microscope)不依賴穿隧電流,因此可以用來觀察非導體。它主要量測探針與樣品表面的哪一種微觀力?

A強交互作用力
B弱交互作用力
C凡得瓦力與原子間接觸排斥力(Vander Waals / Pauli repulsion)正確答案
D重力
答案與詳解
C
正確答案
原子力顯微鏡(AFM)主要透過量測探針與樣品表面原子間的凡得瓦力與包利排斥力來成像。

逐選項解析

A強交互作用力✕ 錯誤
強交互作用力作用於原子核內部的核子之間,作用距離極短(約10的負15次方公尺),並非AFM探針與樣品表面量測的對象。
B弱交互作用力✕ 錯誤
弱交互作用力主要與放射性衰變等現象有關,作用距離同樣極短,不屬於AFM探針與樣品表面的微觀作用力。
C凡得瓦力與原子間接觸排斥力(Vander Waals / Pauli repulsion)✓ 正確
D重力✕ 錯誤

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