關於飛行時間式質譜儀（time of flight mass analyzer）的敘述，下列何者錯誤？
A透過離子因 m/z 差異而有不同的飛行時間，以分離不同 m/z 的離子
B利用反射器（reflectron）增加質譜解析度
C透過W型（W-configuration）可使質量解析度進一步增加
D其分離原理為離子愈小移動愈慢正確答案
答案與詳解
逐選項解析
A透過離子因 m/z 差異而有不同的飛行時間，以分離不同 m/z 的離子✕ 錯誤
TOF核心原理：所有離子被相同電位加速獲得相同動能後，因m/z不同而飛行時間不同，藉此分離。此為正確敘述。
B利用反射器（reflectron）增加質譜解析度✕ 錯誤
反射器（reflectron）利用靜電場補償相同m/z離子間的動能差異，使其同時抵達偵測器，並延長飛行路徑，可顯著提升質量解析度，敘述正確。
C透過W型（W-configuration）可使質量解析度進一步增加✕ 錯誤
D其分離原理為離子愈小移動愈慢✓ 正確
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