下列何種方法最適合測量50 nm大小之顆粒？
Aoptical microscopy
Belectron microscopy正確答案
Csedimentation
Dsieve analysis
答案與詳解
為什麼答案是 B
電子顯微鏡（TEM/SEM）以電子束取代可見光，波長極短，可測量小至約1 nm之顆粒，適用範圍涵蓋奈米級。50 nm顆粒最適合用EM測量，為正解。
考點：光學解析極限考點：電子顯微鏡奈米級考點：沉降法範圍考點：篩分析範圍最粗
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電子顯微鏡（TEM/SEM）以電子束取代可見光，波長極短，可測量小至約1 nm之顆粒，適用範圍涵蓋奈米級。50 nm顆粒最適合用EM測量，為正解。
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