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專技高考-醫事放射師醫學物理學與輻射安全10521單選題

平面板陣列影像偵檢器可分為直接偵測(direct detection)與間接偵測(indirect detection),關於兩者間的差異,下列敘述何者錯誤?

A間接偵測需一層將X光轉換為可見光的物質,但直接偵測不需要
B間接偵測之影像需以雷射光激發讀出,但直接偵測不需要正確答案
C偵檢器材料較厚時會影響間接偵測之空間解析度,但對直接偵測之影響很小
D偵檢器材料厚度相同時,間接偵測對X光的偵測效率較高
答案與詳解
B
正確答案
平板偵檢器:直接偵測用光導體(a-Se)→電荷;間接偵測用閃爍體→可見光→光二極體。兩者皆即時讀出,雷射激發是 CR (IP 板) 的特徵。

為什麼答案是 B

錯誤敘述(即本題答案)。兩種平板偵檢器都是用 TFT 陣列直接讀出電訊號,皆不需雷射激發。需雷射激發讀出的是 CR 系統的光激發磷光體影像板(PSP/IP),考題故意把 CR 特徵套到平板上混淆。

考點:閃爍體層考點:TFT vs CR考點:厚度與解析度考點:偵測效率 DQE
載入中…

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