在出生階段（paranatal period）造成智能發展障礙症（Intellectual Developmental Disorder）的因素中，下列何者最為常見？
A窒息正確答案
B外傷
C營養不良
D睡眠剝奪
答案與詳解
為什麼答案是 A
生產過程中胎兒窒息（birth asphyxia）造成缺氧性缺血性腦病變（HIE），是出生階段智能發展障礙最常見的原因，會直接傷害大腦神經元。
考點：生產窒息考點：產傷考點：營養因素考點：干擾選項
載入中…
生產過程中胎兒窒息（birth asphyxia）造成缺氧性缺血性腦病變（HIE），是出生階段智能發展障礙最常見的原因，會直接傷害大腦神經元。
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