關於 implant assessments 的敘述，下列何者錯誤？
AMombelli's modified plaque index （mPI） of [2] ：指的是肉眼可見菌斑
B探診檢查 PPD 、CAL 、BoP 時：用 2 ～ 3N 輕力探診正確答案
CX 線片檢查：術後每年一次拍 X 線片，如有 peri-implantitis 時則立即拍照
D咬合關係的檢查：首重於是否有穩定的正中咬合及前伸及側方運動有無咬合干擾
答案與詳解
為什麼答案是 B
錯誤選項（題目要選）。植體周圍探診應使用 0.25N 輕力，避免破壞 peri-implant seal。2~3N 力道過大會造成偽陽性 BoP 並傷害軟組織附連。
考點：mPI 分級考點：探診力道考點：影像追蹤考點：咬合評估
載入中…
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