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國營聯招 統計資訊統計學、巨量資料概論106 年第 21 題單選題考點:分解不完整考點:設計混淆陷阱

完全隨機集區設計(Randomized Block Design)下,總變異(SSTO),處理變異(SSTR),集區變異(SSBL)和誤差變異(SSE)間的關係為下列何者?

ASSTO = SSTR + SSBL
BSSTO = SSTR + SSE
CSSTO = SSBL + SSE
DSSTO = SSTR + SSBL + SSE正確答案
答案與詳解
D
正確答案
隨機集區設計中,總變異 = 處理變異 + 集區變異 + 誤差變異,比完全隨機設計多拆出一項集區變異(SSBL)。

逐選項解析

ASSTO = SSTR + SSBL分解不完整✕ 錯誤
SSTO = SSTR + SSBL,漏掉了誤差變異 SSE,分解不完整,此式錯誤。
BSSTO = SSTR + SSE設計混淆陷阱✕ 易錯陷阱
SSTO = SSTR + SSE 是「完全隨機設計(CRD)」的分解式,在集區設計中少了 SSBL,容易混淆。
CSSTO = SSBL + SSE✕ 錯誤
DSSTO = SSTR + SSBL + SSE✓ 正確

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